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LET-SP802半导体参数测试系统-云帆兴烨

型号:LET-SP802
LET-SP802 半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器, 为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。

产品描述

LET-SP802 半导体图示仪是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器,为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。SP802 半导体测试系统能在 200V 和 10A 的条件下实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。

主要技术规格>>>

■电压(源和测量):<200V

■电流(源和测量):<10A

■精度:0.03%

■支持器件:MOSFET,IGBT,DIODE

■支持封装:TO-247/220/3P,SOT223

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